1. ScholarBank@NUS

Osipowicz Thomas

rp05639

Collaboration Map View Statistics Email Alert RSS Feed

Profile

Full Name
Osipowicz Thomas
Variants
Osipowitcz, T.
Osipowicz, T.
OSIPOWICZ, THOMAS
Osiposwicz, T.
Thomas, O.
Osipowice, T.
Osipowicz Thomas
 
Main Affiliation
 
Faculty
 
Email
phyto@nus.edu.sg
 

Publications

Refined By:
Type:  Conference Paper
Author:  Watt, F.

Results 1-20 of 24 (Search time: 0.005 seconds).

Issue DateTitleAuthor(s)
122-Jan-20032 MeV proton channeling contrast microscopy of LEO GaN thin film structuresOsipowicz, T. ; Teo, E.J. ; Bettiol, A.A. ; Watt, F. ; Hao, M.S.; Chua, S.J.
22002A study of the decomposition of GaN during annealing over a wide range of temperaturesRana, M.A.; Choi, H.W.; Breese, M.B.H. ; Osipowicz, T. ; Chua, S.J. ; Watt, F. 
3Apr-2005An automatic beam focusing system for MeV protonsUdalagama, C.N.B. ; Bettiol, A.A. ; Van Kan, J.A. ; Teo, E.J. ; Breese, M.B.H. ; Osipowicz, T. ; Watt, F. 
42005Analysis of E-field distributions within high-power devices using IBIC microscopyZmeck, M.; Balk, L.J.; Heiderhoff, R.; Osipowicz, T. ; Watt, F. ; Phang, J.C.H. ; Khambadkone, A.M. ; Niedernostheide, F.-J.; Schulze, H.-J.
52005Analysis of premature breakdown in high-power devices using IBIC microscopyZmeck, M.; Balk, L.J.; Pugatschow, A.; Niedernostheide, F.-J.; Schulze, H.-J.; Osipowicz, T. ; Watt, F. ; Phang, J.C.H. ; Khambadkone, A.M. 
6Jul-2001Channeling contrast microscopy on lateral epitaxial overgrown GaNTeo, E.J. ; Osipowicz, T. ; Bettiol, A.A. ; Watt, F. ; Hao, M.S.; Chua, S.J.
720-Mar-2002Characteristics of CVD diamond films in detecting UV, x-ray and alpha particleAhn, J.; Gan, B.; Zhang, Q.; Rusli; Yoon, S.F.; Ligatchev, V.; Wang, S.-G.; Huang, Q.-F.; Chew, K.; Patran, A.-C.; Serban, A.; Liu, M.-H.; Lee, S.; Bettiol, A.A. ; Osipowicz, T. ; Watt, F. 
81997Deep ion beam lithography for micromachining applicationsSpringham, S.V.; Osipowicz, T. ; Sanchez, J.L.; Lee, S.; Watt, F. 
9Apr-2005Determination of local lattice tilt in Si1-xGex virtual substrate using high resolution channeling contrast microscopySeng, H.L. ; Osipowicz, T. ; Zhang, J.; Tok, E.S. ; Watt, F. 
10Apr-2005Fabrication of a free standing resolution standard for focusing MeV ion beams to sub 30 nm dimensionsVan Kan, J.A. ; Shao, P.G. ; Molter, P.; Saumer, M.; Bettiol, A.A. ; Osipowicz, T. ; Watt, F. 
11Sep-2003High-resolution channeling contrast microscopy of compositionally graded Si1-XGeX layersSeng, H.L. ; Osipowicz, T. ; Sum, T.C. ; Breese, M.B.H. ; Watt, F. ; Tok, E.S. ; Zhang, J.
12Jul-2001IBIC analysis of high-power devicesOsipowicz, T. ; Zmeck, M.; Watt, F. ; Fiege, G.; Balk, L.; Niedernostheide, F.; Schulze, H.-J.
132011Investigation of multi-resolution support for MeV ion microscopy imagingWhitlow, H.J.; Norarat, R.; Sajavaara, T.; Laitinen, M.; Ranttila, K.; Heikkinen, P.; Hänninen, V.; Rossi, M.; Jones, P.; Timonen, J.; Gilbert, L.K.; Marjomäki, V.; Ren, M. ; Van Kan, J.A. ; Osipowicz, T. ; Watt, F. 
141997Ion Beam Induced Charge imaging for the failure analysis of semiconductor devicesKolachina, S.; Chan, D.S.H. ; Phang, J.C.H. ; Osipowicz, T. ; Sanchez, J.L.; Watt, F. 
1521-Jan-2004Ion beam induced charge microscopy studies of power diodesZmeck, M.; Balk, L.J.; Osipowicz, T. ; Watt, F. ; Phang, J.C.H. ; Khambadkone, A.M. ; Niedernostheide, F.-J.; Schulze, H.-J.
16Jul-2001Micro-RBS study of nickel silicide formationSeng, H.L. ; Osipowicz, T. ; Lee, P.S.; Mangelinck, D.; Sum, T.C. ; Watt, F. 
17Sep-2003Modeling of deep buried structures in high-power devices based on proton beam induced charge microscopyZmeck, M.; Balk, L.; Osipowicz, T. ; Watt, F. ; Phang, J. ; Khambadkone, A. ; Niedernostheide, F.-J.; Schulze, H.-J.
18Feb-2013Objective improvement of the visual quality of ion microscope imagesNorarat, R.; Whitlow, H.J.; Ren, M. ; Osipowicz, T. ; Van Kan, J.A. ; Timonen, J.; Watt, F. 
19May-2002Optimal geometry for GeSi/Si super-lattice structure RBS investigationWielunski, L.S.; Osipowicz, T. ; Teo, E.J. ; Watt, F. ; Tok, E.S. ; Zhang, J.
20May-2002Proton beam micromachined resolution standards for nuclear microprobesWatt, F. ; Rajta, I. ; Van Kan, J.A. ; Bettiol, A.A. ; Osipowicz, T.