1. ScholarBank@NUS

Osipowicz Thomas

rp05639

Collaboration Map View Statistics Email Alert RSS Feed

Profile

Full Name
Osipowicz Thomas
Variants
Osipowitcz, T.
Osipowicz, T.
OSIPOWICZ, THOMAS
Osiposwicz, T.
Thomas, O.
Osipowice, T.
Osipowicz Thomas
 
Main Affiliation
 
Faculty
 
Email
phyto@nus.edu.sg
 

Publications

Refined By:
Type:  Conference Paper
Author:  Bettiol, A.A.

Results 1-13 of 13 (Search time: 0.006 seconds).

Issue DateTitleAuthor(s)
122-Jan-20032 MeV proton channeling contrast microscopy of LEO GaN thin film structuresOsipowicz, T. ; Teo, E.J. ; Bettiol, A.A. ; Watt, F. ; Hao, M.S.; Chua, S.J.
2Apr-2005An automatic beam focusing system for MeV protonsUdalagama, C.N.B. ; Bettiol, A.A. ; Van Kan, J.A. ; Teo, E.J. ; Breese, M.B.H. ; Osipowicz, T. ; Watt, F. 
3Jul-2001Channeling contrast microscopy on lateral epitaxial overgrown GaNTeo, E.J. ; Osipowicz, T. ; Bettiol, A.A. ; Watt, F. ; Hao, M.S.; Chua, S.J.
420-Mar-2002Characteristics of CVD diamond films in detecting UV, x-ray and alpha particleAhn, J.; Gan, B.; Zhang, Q.; Rusli; Yoon, S.F.; Ligatchev, V.; Wang, S.-G.; Huang, Q.-F.; Chew, K.; Patran, A.-C.; Serban, A.; Liu, M.-H.; Lee, S.; Bettiol, A.A. ; Osipowicz, T. ; Watt, F. 
51-Aug-2004Depth-resolved luminescence imaging of epitaxial lateral overgrown GaN using ionoluminescenceTeo, E.J. ; Bettiol, A.A. ; Osipowicz, T. ; Hao, M.; Chua, S.J. ; Liu, Y.Y. 
6Apr-2005Fabrication of a free standing resolution standard for focusing MeV ion beams to sub 30 nm dimensionsVan Kan, J.A. ; Shao, P.G. ; Molter, P.; Saumer, M.; Bettiol, A.A. ; Osipowicz, T. ; Watt, F. 
7May-2002Proton beam micromachined resolution standards for nuclear microprobesWatt, F. ; Rajta, I. ; Van Kan, J.A. ; Bettiol, A.A. ; Osipowicz, T. 
8Oct-2008Proton beam writing: A platform technology for nanowire productionVan Kan, J.A. ; Zhang, F. ; Chiam, S.Y. ; Osipowicz, T. ; Bettiol, A.A. ; Watt, F. 
9Dec-2008Selective growth of ZnO nanorod arrays on a GaN/sapphire substrate using a proton beam written maskZhou, H.L.; Shao, P.G. ; Chua, S.J.; Van Kan, J.A. ; Bettiol, A.A. ; Osipowicz, T. ; Ooi, K.F.; Goh, G.K.L.; Watt, F. 
102008Spectral properties of thick split ring resonators in the THz regimeChiam, S.-Y. ; Han, J. ; Singh, R.; Zhang, W.; Osipowicz, T. ; Bettiol, A.A. 
11May-2002Sub-micron channeling contrast microscopy on reactive ion etched deep Si microstructuresTeo, E.J. ; Alkaisi, M.; Bettiol, A.A. ; Osipowicz, T. ; Van Kan, J. ; Watt, F. ; Markwitz, A.
12Sep-2003The National University of Singapore high energy ion nano-probe facility: Performance testsWatt, F. ; Van Kan, J.A. ; Rajta, I. ; Bettiol, A.A. ; Choo, T.F.; Breese, M.B.H. ; Osipowicz, T. 
132003Yellow luminescence imaging of epitaxial lateral overgrown GaN using ionoluminescenceTeo, E.J. ; Bettiol, A.A. ; Osipowicz, T. ; Hao, M.S.; Chua, S.J. ; Liu, Y.Y.