1. ScholarBank@NUS

Wen Li

rp05456

Collaboration Map View Statistics Email Alert RSS Feed

Profile

Full Name
Wen Li
(not current staff)
Variants
Li W.
Li, W.
Wen, L.
 
Main Affiliation
 
Faculty
 
Email
slswl@nus.edu.sg
 

Publications

Refined By:
Date Issued:  [2000 TO 3000]
Author:  Wen, L.
Author:  Yang, P.

Results 1-6 of 6 (Search time: 0.004 seconds).

Issue DateTitleAuthor(s)
11-Apr-2010Multivariate analysis techniques in the forensics investigation of the postblast residues by means of fourier transform-infrared spectroscopyBanas, K. ; Banas, A. ; Moser, H.O. ; Bahou, M. ; Li, W. ; Yang, P. ; Cholewa, M.; Lim, S.K.
210-Nov-2009Post-blast detection of traces of explosives by means of Fourier transform infrared spectroscopyBanas, A. ; Banas, K. ; Bahou, M. ; Moser, H.O. ; Wen, L. ; Yang, P. ; Li, Z.J. ; Cholewa, M. ; Lim, S.K.; Lim, Ch.H.
32007Research frontiers at SSLSMoser, H.O. ; Bahou, M. ; Casse, B.D.F. ; Chew, E.P. ; Cholewa, M. ; Diao, C.Z. ; Ding, S.X.D.; Gu, P.D. ; Heussler, S.P. ; Jian, L.K. ; Kong, J.R. ; Lee, J.W.; Li, Z.J. ; Li, Z.W. ; Miao, H. ; Ren, Y.P.; Saw, B.T. ; Bin Mahmood, S. ; Wen, L. ; Wong, J.H.W.; Yang, P. ; Yu, X.J. ; Gao, X. ; Liu, T. ; Wee, A.T.S. ; Gu, J. ; Sim, W.S. 
42007Shaping and characterising materials - Recent results from singapore synchrotron light sourceMoser, H.O. ; Bahou, M. ; Casse, B.D.F. ; Chen, A. ; Chew, E.P. ; Cholewa, M. ; Diao, C.Z. ; Gu, P.D. ; Inglis, S.; Jian, L.K. ; Li, Z.W. ; Miao, H. ; Bin Mahmood, S. ; Wen, L. ; Wong, J.H.W.; Yang, P. ; Yu, X.J. ; Chen, W. ; Gao, X.Y. ; Liu, T. ; Wee, A.T.S. 
5Feb-2011Synchrotron-based fourier transform infrared spectroscopy and statistic analysis in detection of post-blast traces of explosive materialsBanas, A. ; Banas, K. ; Moser, H.O.; Bahou, M. ; Li, W. ; Yang, P. ; Cholewa, M.; Lim, S.K.
6Oct-2012Synchrotron-based fourier transform infrared spectroscopy and statistic analysis in detection of post-blast traces of explosive materialsBanas, A. ; Banas K. ; Moser, H.O.; Bahou M. ; Li W. ; Yang P. ; Cholewa M.; Lim, S.K.