Browsing by Author Hu, N.

Showing results 1 to 15 of 15
Issue DateTitleAuthor(s)
1-Aug-2006A fast in situ approach to estimating wafer warpage profile during thermal processing in microlithographyHu, N.; Tay, A. ; Tsai, K.-Y.
Feb-2007An in situ approach to real-time spatial control of steady-state wafer temperature during thermal processing in microlithographyTay, A. ; Ho, W.K. ; Hu, N.
Jun-2012Detectable clonal mosaicism and its relationship to aging and cancerJacobs, K.B.; Yeager, M.; Zhou, W.; Wacholder, S.; Wang, Z.; Rodriguez-Santiago, B.; Hutchinson, A.; Deng, X.; Liu, C.; Horner, M.-J.; Cullen, M.; Epstein, C.G.; Burdett, L.; Dean, M.C.; Chatterjee, N.; Sampson, J.; Chung, C.C.; Kovaks, J.; Gapstur, S.M.; Stevens, V.L.; Teras, L.T.; Gaudet, M.M.; Albanes, D.; Weinstein, S.J.; Virtamo, J.; Taylor, P.R.; Freedman, N.D.; Abnet, C.C.; Goldstein, A.M.; Hu, N.; Yu, K.; Yuan, J.-M.; Liao, L.; Ding, T.; Qiao, Y.-L.; Gao, Y.-T.; Koh, W.-P. ; Xiang, Y.-B.; Tang, Z.-Z.; Fan, J.-H.; Aldrich, M.C.; Amos, C.; Blot, W.J.; Bock, C.H.; Gillanders, E.M.; Harris, C.C.; Haiman, C.A.; Henderson, B.E.; Kolonel, L.N.; Le Marchand, L.; McNeill, L.H.; Rybicki, B.A.; Schwartz, A.G.; Signorello, L.B.; Spitz, M.R.; Wiencke, J.K.; Wrensch, M.; Wu, X.; Zanetti, K.A.; Ziegler, R.G.; Figueroa, J.D.; Garcia-Closas, M.; Malats, N.; Marenne, G.; Prokunina-Olsson, L.; Baris, D.; Schwenn, M.; Johnson, A.; Landi, M.T.; Goldin, L.; Consonni, D.; Bertazzi, P.A.; Rotunno, M.; Rajaraman, P.; Andersson, U.; Freeman, L.E.B.; Berg, C.D.; Buring, J.E.; Butler, M.A.; Carreon, T.; Feychting, M.; Ahlbom, A.; Gaziano, J.M.; Giles, G.G.; Hallmans, G.; Hankinson, S.E.; Hartge, P.; Henriksson, R.; Inskip, P.D.; Johansen, C.; Landgren, A.; McKean-Cowdin, R.; Michaud, D.S.; Melin, B.S.; Peters, U.; Ruder, A.M.; Sesso, H.D.; Severi, G.; Shu, X.-O.; Visvanathan, K.; White, E.; Wolk, A.; Zeleniuch-Jacquotte, A.; Zheng, W.; Silverman, D.T.; Kogevinas, M.; Gonzalez, J.R.; Villa, O.; Li, D.; Duell, E.J.; Risch, H.A.; Olson, S.H.; Kooperberg, C.; Wolpin, B.M.; Jiao, L.; Hassan, M.; Wheeler, W.; Arslan, A.A.; Bueno-De-Mesquita, H.B.; Fuchs, C.S.; Gallinger, S.; Gross, M.D.; Holly, E.A.; Klein, A.P.; Lacroix, A.; Mandelson, M.T.; Petersen, G.; Boutron-Ruault, M.-C.; Bracci, P.M.; Canzian, F.; Chang, K.; Cotterchio, M.; Giovannucci, E.L.; Goggins, M.; Bolton, J.A.H.; Jenab, M.; Khaw, K.-T.; Krogh, V.; Kurtz, R.C.; McWilliams, R.R.; Mendelsohn, J.B.; Rabe, K.G.; Riboli, E.; Tjønneland, A.; Tobias, G.S.; Trichopoulos, D.; Elena, J.W.; Yu, H.; Amundadottir, L.; Stolzenberg-Solomon, R.Z.; Kraft, P.; Schumacher, F.; Stram, D.; Savage, S.A.; Mirabello, L.; Andrulis, I.L.; Wunder, J.S.; García, A.P.; Sierrasesà maga, L.; Barkauskas, D.A.; Gorlick, R.G.; Purdue, M.; Chow, W.-H.; Moore, L.E.; Schwartz, K.L.; Davis, F.G.; Hsing, A.W.; Berndt, S.I.; Black, A.; Wentzensen, N.; Brinton, L.A.; Lissowska, J.; Peplonska, B.; McGlynn, K.A.; Cook, M.B.; Graubard, B.I.; Kratz, C.P.; Greene, M.H.; Erickson, R.L.; Hunter, D.J.; Thomas, G.; Hoover, R.N.; Real, F.X.; Fraumeni Jr., J.F.; Caporaso, N.E.; Tucker, M.; Rothman, N.; Pérez-Jurado, L.A.; Chanock, S.J.
2004Detection of Wafer warpages during thermal processing in microlithographyHo, W.K. ; Tay, A. ; Zhou, Y.; Yang, K.; Hu, N.
Jul-2005Estimation of wafer warpage profile during thermal processing in microlithographyTay, A. ; Ho, W.K. ; Hu, N.; Chen, X.
2012Evaluation of piezoelectric property of reduced graphene oxide (rGO)-poly(vinylidene fluoride) nanocompositesAlamusi; Xue, J. ; Wu, L.; Hu, N.; Qiu, J.; Chang, C.; Atobe, S.; Fukunaga, H.; Watanabe, T.; Liu, Y.; Ning, H.; Li, J.; Li, Y.; Zhao, Y.
2005Fast detection of frequent change in focus of human attentionHu, N.; Huang, W.; Ranganath, S. 
2004Fault detection and estimation of wafer warpage profile during thermal processing in microlithographyTay, A. ; Ho, W.K. ; Hu, N.; Zhou, Y.
May-2012Genotypic variants at 2q33 and risk of esophageal squamous cell carcinoma in China: A meta-analysis of genome-wide association studiesAbnet, C.C.; Wang, Z.; Song, X.; Hu, N.; Zhou, F.-Y.; Freedman, N.D.; Li, X.-M.; Yu, K.; Shu, X.-O.; Yuan, J.-M.; Zheng, W.; Dawsey, S.M.; Liao, L.M.; Lee, M.P.; Ding, T.; Qiao, Y.-L.; Gao, Y.-T.; Koh, W.-P. ; Xiang, Y.-B.; Tang, Z.-Z.; Fan, J.-H.; Chung, C.C.; Wang, C.; Wheeler, W.; Yeager, M.; Yuenger, J.; Hutchinson, A.; Jacobs, K.B.; Giffen, C.A.; Burdett, L.; Fraumeni Jr., J.F.; Tucker, M.A.; Chow, W.-H.; Zhao, X.-K.; Li, J.-M.; Li, A.-L.; Sun, L.-D.; Wei, W.; Li, J.-L.; Zhang, P.; Li, H.-L.; Cui, W.-Y.; Wang, W.-P.; Liu, Z.-C.; Yang, X.; Fu, W.-J.; Cui, J.-L.; Lin, H.-L.; Zhu, W.-L.; Liu, M.; Chen, X.; Chen, J.; Guo, L.; Han, J.-J.; Zhou, S.-L.; Huang, J.; Wu, Y.; Yuan, C.; Huang, J.; Ji, A.-F.; Kul, J.-W.; Fan, Z.-M.; Wang, J.-P.; Zhang, D.-Y.; Zhang, L.-Q.; Zhang, W.; Chen, Y.-F.; Ren, J.-L.; Li, X.-M.; Dong, J.-C.; Xing, G.-L.; Guo, Z.-G.; Yang, J.-X.; Mao, Y.-M.; Yuan, Y.; Guo, E.-T.; Zhang, W.; Hou, Z.-C.; Liu, J.; Li, Y.; Tang, S.; Chang, J.; Peng, X.-Q.; Han, M.; Yin, W.-L.; Liu, Y.-L.; Hu, Y.-L.; Liu, Y.; Yang, L.-Q.; Zhu, F.-G.; Yang, X.-F.; Feng, X.-S.; Wang, Z.; Li, Y.; Gao, S.-G.; Liu, H.-L.; Yuan, L.; Jin, Y.; Zhang, Y.-R.; Sheyhidin, I.; Li, F.; Chen, B.-P.; Ren, S.-W.; Liu, B.; Li, D.; Zhang, G.-F.; Yue, W.-B.; Feng, C.-W.; Qige, Q.; Zhao, J.-T; Yang, W.-J; Lei, G.-Y.; Chen, L.-Q.; Li, E.-M; Xu, L.-Y.; Wu, Z.-Y.; Bao, Z.-Q.; Chen, J.-L.; Li, X.-C.; Zhuang, X.; Zhou, Y.-F.; Zuo, X.-B.; Dong, Z.-M.; Wang, L.-W.; Fan, X.-P.; Wang, J.; Zhou, Q.; Ma, G.-S.; Zhang, Q.-X.; Liu, H.; Jian, X.-Y.; Lian, S.-Y; Wang, J.-S.; Chang, F.-B.; Lu, C.-D.; Miao, J.-J.; Chen, Z.-G.; Wang, R.; Guo, M.; Fan, Z.-L.; Tao, P.; Liu, T.-J.; Wei, J.; Kong, Q.-P.; Fan, L.; Wang, X.-Z.; Gao, F.-S.; Wang, T.-Y.; Xie, D.; Wang, L.; Chen, S.-Q.; Yang, W.-C.; Hong, J.-Y.; Wang, L.; Qiu, S.-L.; Goldstein, A.M.; Yuan, Z.-Q.; Chanock, S.J.; Zhang, X.-J.; Taylor, P.R.; Wang, L.-D.
2005Head pose estimation by non-linear embedding and mappingHu, N.; Huang, W.; Ranganath, S. 
2007Real-time spatial control of photoresist development rateTay, A. ; Ho, W.-K. ; Hu, N.; Kiew, C.-M.; Tsai, K.-Y.
2006Real-time spatial control of steady-state wafer temperature during thermal processing in microlithographyTay, A. ; Ho, W.-K. ; Hu, N.; Tsai, K.-Y.; Zhou, Y.
2006Robust attentive behavior detection by non-linear head pose embedding and estimationHu, N.; Huang, W.; Ranganath, S. 
Jan-2013Ultrasensitive strain sensors made from metal-coated carbon nanofiller/epoxy compositesHu, N.; Itoi, T.; Akagi, T.; Kojima, T.; Xue, J. ; Yan, C.; Atobe, S.; Fukunaga, H.; Yuan, W.; Ning, H.; Surina; Liu, Y.; Alamusi
Jan-2013Ultrasensitive strain sensors made from metal-coated carbon nanofiller/epoxy compositesHu, N.; Itoi, T.; Akagi, T.; Kojima, T.; Xue, J. ; Yan, C.; Atobe, S.; Fukunaga, H.; Yuan, W.; Ning, H.; Surina; Liu, Y.; Alamusi